电子透射检测

检测项目

1.晶体结构分析：晶格常数测定、晶面间距测量、晶体取向标定、物相鉴定、选区电子衍射分析。

2.微观形貌观察：颗粒尺寸与分布统计、薄膜厚度测量、表面与界面形貌表征、孔洞与裂纹观察。

3.元素成分分析：微区元素定性及半定量分析、元素面分布扫描、元素线扫描分析。

4.缺陷结构表征：位错类型与密度分析、层错与孪晶观察、晶界与相界面结构解析、空位与间隙原子团簇研究。

5.纳米结构解析：纳米颗粒形貌与尺寸分析、纳米线/管直径与结构表征、量子点尺寸与分布测试。

6.材料相变研究：相组成鉴定、第二相析出行为观察、相变过程中微观结构演变追踪。

7.界面与涂层分析：涂层厚度与均匀性测量、界面结合状态观察、扩散层厚度与成分分析。

8.生物与有机材料观测：超薄切片形貌观察、生物大分子结构表征、高分子材料微观相态分析。

9.原位动态过程研究：加热过程中结构变化观察、力学加载下缺陷演变追踪、气氛环境下材料反应过程监控。

10.电子能量损失谱分析：元素精细结构分析、化学态鉴定、厚度测量、等离子体激元研究。

检测范围

金属及合金材料、半导体晶圆与器件、陶瓷与耐火材料、高分子及复合材料、纳米颗粒与粉体、催化材料、电池正负极材料、薄膜涂层与镀层、矿物与地质样品、生物组织超薄切片、碳纳米管与石墨烯、纤维材料、金属间化合物、玻璃与非晶材料、介孔材料、磁性材料、失效分析样品、环境粉尘颗粒、高温合金、钙钛矿材料

检测设备

1.透射电子显微镜：利用高能电子束穿透样品，通过电磁透镜成像，实现材料原子尺度分辨率的结构与形貌观察。

2.能量色散X射线光谱仪：与透射电子显微镜联用，通过探测样品受激产生的特征X射线，进行微区元素的定性与半定量分析。

3.电子能量损失谱仪：分析穿透样品后电子的能量损失，用于获取元素的化学态、电子结构及样品厚度等信息。

4.扫描透射电子显微镜附件：以扫描探针模式工作，可实现高角环形暗场像等成像模式，特别适用于轻元素成像和定量成分分析。

5.低温样品台：用于在液氮温度下对生物样品、对电子束敏感材料或需抑制热扰动的样品进行观测，减少电子束损伤。

6.高温原位样品台：允许在透射电子显微镜内对样品进行可控加热，实时观察材料在高温下的结构演变和相变过程。

7.力学测试原位样品台：集成微纳力学测试单元，可在电镜下对样品进行拉伸、压缩或弯曲，动态研究其力学行为与微观结构关联。

8.双束聚焦离子束系统：主要用于制备透射电子显微镜专用的、特定位置的超薄样品，精度可达纳米级别。

9.数字图像采集系统：高灵敏度相机，用于记录高分辨图像及衍射图谱，并进行图像处理、测量和数据分析。

10.真空镀膜仪：在非导电样品表面蒸镀一层极薄的碳或金属膜，以消除观察时因电荷积累造成的图像漂移或畸变。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.